Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen von Baumann, Peter

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

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Die Publikation Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen - Simulation mit PSPICE von ist bei Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH erschienen. Die Publikation ist mit folgenden Schlagwörtern verschlagwortet: Bauelement, Bipolartransistor, Buch, Diode, Elektronik, Elektrotechnik, Feldeffekttransistor, FET, Halbleiter, Halbleiterdiode, Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor, MOS-Feldeffekttransistor, MOS-FET, Operationsverstärker, Optokoppler., OrCAD-PSpice, Sperrschicht-Feldeffekttransistor, Sperrschicht-Feldeffekttransistoren, SPICE-Modellparameter, Transistor. Weitere Bücher, Themenseiten, Autoren und Verlage finden Sie hier: https://buch-findr.de/sitemap_index.xml . Auf Buch FindR finden Sie eine umfassendsten Bücher und Publikationlisten im Internet. Sie können die Bücher und Publikationen direkt bestellen. Ferner bieten wir ein umfassendes Verzeichnis aller Verlagsanschriften inkl. Email und Telefonnummer und Adressen. Die Publikation kostet in Deutschland 22.99 EUR und in Österreich 22.99 EUR Für Informationen zum Angebot von Buch FindR nehmen Sie gerne mit uns Kontakt auf!