Computer umgeben uns heute in fast allen Lebensbereichen. Sie erleichtern uns nicht nur als PC oder Laptop die Arbeit, sondern sind auch eingebettet in zahlreiche Objekte unseres täglichen Lebens – vom Auto bis zur Waschmaschine. Doch wie funktionieren moderne Rechner eigentlich? Und wie werden diese hochkomplexen, aus Milliarden Komponenten bestehenden Geräte entworfen?Das Buch erklärt auf verständliche, informative und unterhaltsame Weise den Aufbau und die Funktionsweise heutiger Computersysteme. Einzelne inhaltliche Abschnitte werden durch Links zu Videos ergänzt, in denen Professor Rolf Drechsler relevante Themen prägnant und pointiert vorstellt.
Aktualisiert: 2023-04-07
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Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar chisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.
Aktualisiert: 2023-02-02
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Eines der Hauptprobleme beim Chipentwurf besteht darin, daß die Anzahl der zu bewältigenden Kombinationen der einzelnen Chipbausteine ins Unermeßliche steigt. Hier hat sich eine sehr fruchtbare Verbindung zu einem Kerngebiet der Theoretischen Informatik, dem Gebiet des Entwurfs von Datenstrukturen und effizienten Algorithmen, herstellen lassen: das Konzept der geordneten binären Entscheidungsgraphen, das in zahlreichen CAD-Projekten zu einer beträchtlichen Leistungssteigerung geführt hat. Die Autoren stellen die Grundlagen dieses interdisziplinären Forschungsgebiets dar und behandeln wichtige Anwendungen aus dem rechnergestützten Schaltkreisentwurf.
Aktualisiert: 2023-04-07
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Aktualisiert: 2023-03-14
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Computer umgeben uns heute in fast allen Lebensbereichen. Sie erleichtern uns nicht nur als PC oder Laptop die Arbeit, sondern sind auch eingebettet in zahlreiche Objekte unseres täglichen Lebens – vom Auto bis zur Waschmaschine. Doch wie funktionieren moderne Rechner eigentlich? Und wie werden diese hochkomplexen, aus Milliarden Komponenten bestehenden Geräte entworfen?Das Buch erklärt auf verständliche, informative und unterhaltsame Weise den Aufbau und die Funktionsweise heutiger Computersysteme. Einzelne inhaltliche Abschnitte werden durch Links zu Videos ergänzt, in denen Professor Rolf Drechsler relevante Themen prägnant und pointiert vorstellt.
Aktualisiert: 2023-04-07
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Orthogonalität ist eine besondere Eigenschaft Boolescher Funktionen. Die Orthogonalisierung einer Booleschen Funktion vereinfacht die Transformation in eine andere äquivalente Form. In dieser Arbeit werden zwei neue allgemeingültige, logische operative Verknüpfungsmethoden die 'orthogonalisierende Differenzbildung
⊝' und das 'orthogonalisierende Verodern v' vorgestellt, welche Ergebnisse in orthogonaler Form ermöglichen. Darüber hinaus weisen die algorithmischen Implementierungen beider neuen Verknüpfungsmethoden geringere Rechenzeiten und Vorteile im Hinblick auf den Speicherplatzbedarf im Vergleich zu den Kompositionen aus einer herkömmlichen bekannten Operation und einer anschließenden Orthogonalisierung auf. Durch die inhärente Orthogonalisierung werden weitere Verarbeitungsschritte in der TVL-Arithmetik, wie das Boolesche Differentialkalkül, erheblich vereinfacht. Ternär-Vektor-Listen werden als rechnerinterne Darstellung für binäre Funktionen verwendet und sind für die Behandlung Boolescher Probleme vorteilhafter. Daneben werden in dieser Arbeit zwei neue mathematische Boolesche Gleichungen zur Orthogonalisierung Boolescher Funktionen bzw. Ternär-Vektor-Listen disjunktiver Normalformen hergeleitet, welche jeweils auf den neuen Methoden basieren. Zum ersten Mal wird damit die Problematik der Orthogonalisierung mathematisch behandelt und einfache Gleichungen zur Berechnung der orthogonalen Form vorgestellt. Zudem werden die beiden neuen Methoden in der Bestimmung von Testbelegungen für kombinatorische Schaltungen zur Verifizierung möglicher logischer Fehler in der TVL-Arithmetik eingesetzt. Ihre implementierten Algorithmen weisen Vorteile bezüglich Rechenzeit und Speicherplatzbedarf auf und ermöglichen damit die Berechnung von minimierter Menge an Testbelegungen. Mit der geringeren Rechenzeit der Algorithmen und der ermittelten minimalen Menge an Testsätzen wird eine Einsparung in Testzeit und die damit verbundenen Testkosten erreicht werden können. Die Anwendungsbreite der neuen Methoden zur Orthogonalisierung beschränkt sich nicht nur auf die Ermittlung von Testbelegungen.
Ähnliche Vorteile können auch für die Anwendungen in der Kryptologie erwartet werden, was aber nicht Gegenstand dieser Arbeit ist. Die in dieser Arbeit vorgestellten neuen Methoden können eventuell ihren Einsatz da finden, wo die Anwendung Boolescher Funktionen und ihre Orthogonalisierung von Bedeutung ist, wie z.B. in der Logik, Schaltalgebra, Aussagenlogik, Zuverlässigkeitsanalyse, Game Theory.
Aktualisiert: 2020-01-08
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Eines der Hauptprobleme beim Chipentwurf besteht darin, daß die Anzahl der zu bewältigenden Kombinationen der einzelnen Chipbausteine ins Unermeßliche steigt. Hier hat sich eine sehr fruchtbare Verbindung zu einem Kerngebiet der Theoretischen Informatik, dem Gebiet des Entwurfs von Datenstrukturen und effizienten Algorithmen, herstellen lassen: das Konzept der geordneten binären Entscheidungsgraphen, das in zahlreichen CAD-Projekten zu einer beträchtlichen Leistungssteigerung geführt hat. Die Autoren stellen die Grundlagen dieses interdisziplinären Forschungsgebiets dar und behandeln wichtige Anwendungen aus dem rechnergestützten Schaltkreisentwurf.
Aktualisiert: 2023-04-07
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Aktualisiert: 2023-04-04
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Wer sich mit Informatik beschäftigt, kommt um die Booleschen Funktionen nicht herum. Auf diese einseitigen Info-Tafel erhält der Nutzer eine grafisch ausgezeichnete Übersicht über die wichtigsten Zusammenhänge aus dem bereich der Booleschen Funktionen, der Schaltalgebra (mit Symbolen nach DIN/ISO) sowie den zugrunde liegenden Huntington'schen Axiomen.
Der perfekte Helfer rund um das Thema Informatik.
Aktualisiert: 2020-01-16
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Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar chisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.
Aktualisiert: 2023-04-04
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