Ein Beitrag zur Charakterisierung und Auslegung des Verbundes von Kunststoffsubstraten mit harten Dünnschichten

Ein Beitrag zur Charakterisierung und Auslegung des Verbundes von Kunststoffsubstraten mit harten Dünnschichten von Sander,  Thomas
Die tribologischen Anforderungen an Kunststoffbauteile in energieeffizienten Systemen mit optimierter Reibung und Verschleißschutz sind hoch. Durch die geringen Schichtdicken in Kombination mit dem verhältnismäßig weichen Kunststoff als Substratwerkstoff sind zahlreiche etablierte Charakterisierungsverfahren nicht für solche Bauteile geeignet. Basierend auf einer Vorgehensweise zur Festigkeitsauslegung, werden in der vorgestellten Forschungsarbeit speziell zur Charakterisierung harter Dünnschichten auf weichen Substratmaterialien geeignete Prüfmethoden ausgewählt, angepasst und entwickelt. Hierfür wird das Schicht-Elastizitätsmodul mit einem kombinierten Verfahren aus Indentierungen und numerischen Berechnungen ermittelt. Regressionsmodelle ersetzen für zukünftige Anwendungen die FE-Simulationen und beschleunigen weitere Auswertungen. Ein modifizierter Ritztest erzeugt gezielt mehrachsige Spannungszustände, die mittels FE-Simulationen nachgebildet werden. So werden die mechanischen Grenzen des Schicht-Substrat-Verbundes ermittelt und die Auswirkungen von Parametermodifikationen illustriert. Der Einfluss von dünnen harten Schichten auf die Steifigkeit und die Eigenfrequenzen des gesamten Bauteils wird analytisch und experimentell untersucht. Für das Anwendungsgebiet der beschichteten Wälzlagerkäfige werden die tribologischen und funktionalen Potentiale für harte und tribologisch relevante Schichten aufgezeigt und gängigen Käfigwerkstoffen gegenübergestellt.
Aktualisiert: 2020-11-05
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Verfahrensentwicklung zur Herstellung gebrauchsbeständiger kleinststrukturierter Kunststoffbauteile

Verfahrensentwicklung zur Herstellung gebrauchsbeständiger kleinststrukturierter Kunststoffbauteile von Kübler,  Michael, Wagner,  Manfred H.
Die Anforderungen an die „Funktionalität“ von Bauteiloberflächen nehmen stetig zu. Eine Vielzahl von geforderten Oberflächeneigenschaften kann über das für die Fertigung der Oberfläche verwendete Material, sowie die mikro- oder nanoskalige Topographie der Oberfläche beeinflusst werden. Beispiele von durch Kleinststrukturen erzielbaren Oberflächenfunktionalitäten sind die Möglichkeit Informationen in Form kleinster Oberflächenstrukturen zu speichern (optische Datenträger, Hologramme, etc.), schwer benetzbare Oberflächen nach dem Vorbild der Lotusblüte oder reflektionsarme Oberflächen nach dem Vorbild des Mottenauges. So unterschiedlich die angestrebten Oberflächenfunktionalisierungen auch sind, weisen diese meist eine Gemeinsamkeit auf. Hierbei handelt es sich um die Forderung der Beständigkeit gegenüber verschiedenen äußeren, meist mechanischen oder chemischen Einflüssen. Ein stetig wachsender Teil von Bauteiloberflächen für welche die oben genannten Anforderungen gelten, werden in Massenfertigungsverfahren – beispielsweise im Spritzgießprozess – aus polymeren Werkstoffen gefertigt. Im Folgenden wird auf material- und verfahrenstechnische Aspekte eingegangen, welche bei der Herstellung von funktionalisierten Bauteiloberflächen aus polymeren Werkstoffen mit erhöhter mechanischer und chemischer Beständigkeit beachtet werden müssen. Die mechanische Oberflächenbeständigkeit von Bauteilen aus thermoplastisch verarbeitbaren Polymeren reicht für eine Vielzahl von angestrebten Einsatzszenarien kleinststrukturierter Kunststoffkomponenten nicht aus. Diesbezüglich weisen chemisch quervernetzte Polymere wie beispielsweise Mehrkomponenten-Polyurethansysteme signifikante Vorteile auf. Allerdings kann aufgrund weiterer Anforderungen meist nicht das gesamte Bauteil aus einem bezüglich der Oberflächenbeständigkeit geeigneten Polymermaterial gefertigt werden. Daher wird eine Verfahrenstechnik für die konturfolgende Beschichtung von Bauteilen mit chemisch quervernetzenden Polymeren in einem formgebenden Werkzeug entwickelt. In die Beschichtung, welche typischerweise eine Dicke zwischen 20 µm und 300 µm aufweist, werden die meist nur wenige hundert Nanometer tiefen Kleinststrukturen während des Beschichtungsprozesses von einer formgebenden Werkzeugwandoberfläche abgeformt. Aufgrund der angestrebten geringen Schichtdicken stellt die Materialaufbereitung und Dosierung entsprechend kleiner Mengen (typisch zwischen 1 ml und 20 ml) der im unvernetzten Zustand meist vergleichsweise niedrigviskosen Formmassen (Nullviskosität bei Verarbeitungstemperatur typisch zwischen 10 mPas und 5 Pas) eine bis dato noch nicht gestellte technische Herausforderung dar. Auch bestehen entsprechende Anforderungen an die eingesetzte Werkzeugtechnik bezüglich einer wirksamen Werkzeugentlüftung bei ausreichender Werkzeugabdichtung. Weiterhin müssen aufgrund der extremen Adhäsionsneigung der meisten für eine Beschichtung in Frage kommenden Polymere geeignete Maßnahmen für die Sicherstellung der zerstörungsfreien Entformung des beschichteten Bauteils getroffen werden. Hier wird unter anderem auf die Möglichkeit des Einsatzes sehr dünner im Plasmapolymerisationsprozess abgeschiedener antiadhäsiver fluor- oder siliziumorganischer Schichten, beziehungsweise Schichtsystemen eingegangen. Weiterhin wird die Möglichkeit des Einsatzes antiadhäsiver Formeinsatzmaterialien sowie in das für die Beschichtung verwendete Polymer eingearbeitete interne Trennmittel untersucht. Anhand der Ergebnisse der durchgeführten Untersuchungen werden die für die Umsetzung der beschriebenen Verfahrenstechnik in für die Massenfertigung geeigneten hochautomatisierten Prozessen zu beachtenden Aspekte diskutiert.
Aktualisiert: 2019-03-25
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Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau

Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau von Klaus,  Manuela
A formalism is developed, which extends the depth resolved X-ray residual stress analysis (XSA) on thin films to the case of multilayer systems. The method is based on the replacement of the classic information depth, which loses its physical meaning in the case of alternating sublayers, by an equivalence thickness model describing the residual stress state in each of the diffracting layers in a parametric form. The proposed formalism is independent from both the diffraction geometry and diffraction mode chosen for data acquisition and hence, exhibits a universal character. The method is applied to residual stress analysis on CVD-coated cemented carbide cutting inserts. Both angle and energy dispersive diffraction using conventional low energy X-ray sources and high energy synchrotron radiation, respectively, were applied to achieve sufficient sensitivity in the near surface region of the investigated Al2O3/TiCN multilayers as well as in the interfacial substrate region. By examples of practical relevance it is demonstrated, that the proposed formalism is suited for detecting both ‚intralayer‘ residual stress gradients within particular sublayers and ‚interlayer‘ residual stress gradients which extend over several sublayers of a multilayer system. It is shown, that the white beam method can be used for simultaneous analysis of the film stress as well as the near interface substrate residual stress state to the same degree. Thus, from the technological point of view the interesting possibility arises to apply energy dispersive diffraction to large sample series being necessary in process control and optimisation. The second focus of the thesis is on the development of a MATHEMATICA® package, by means of which X-ray residual stress analysis for arbitrary measurement set-up and layer geometry can be simulated based on the kinematic theory of diffraction. Two different fields of application, which are related to the experimental results, are examined. Thus, the causal connection between the steep residual stress gradients and asymmetric diffraction line broadening could be proved quantitatively. Further it is demonstrated, that the simulation of XSA-experiments is a valuable tool to study the feasibility of complex measuring problems and to reveal optimal approaches for their solution.
Aktualisiert: 2019-03-25
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