Die zerstörungsfreie Ultraschallprüfung von Schmiedeteilen ist ein wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung großer Gas- und Dampfturbinen sowie Generatoren. Zielsetzung der Ultraschallinspektion ist neben der eigentlichen Detektion von sicherheitskritischen Materialfehlern auch eine quantitative Bewertung von gefundenen Fehlstellen. Erst mithilfe ungefährer Kenntnis von Größe, Lage und Form von Defekten können Abschätzungen über nominelle Lebensdauer und erforderliche Serviceintervalle eines Bauteils getroffen werden. Moderne Bildgebungsalgorithmen, wie z. B. die Synthetische Aperturfokussierungstechnik (SAFT), verbessern die Auflösung und das Signal-Rausch-Verhältnis von Ultraschallinspektionen. Heutzutage ist ihr Einsatz aufgrund der stetig zunehmenden Rechenleistung von Computern auch bei der Prüfung großer Bauteile möglich. Allerdings fehlt bei der SAFT eine Methode zur quantitativen Bewertung von Defekten, deren Ab-
messungen im Vergleich zum Auflösungsvermögen des Systems gering sind.
Im Rahmen dieser Arbeit wird ein Verfahren entwickelt, welches die Charakterisierung derartiger Fehlstellen in den Ultraschallprüfdaten großer Schmiedeteile ermöglicht. Die Identifikation und Lokalisierung von Defekten findet in den SAFT-rekonstruierten Daten statt. An den resultierenden Positionen dienen stark vereinfachte Defektmodelle, wie Kreisscheiben oder Kugeln, als Ausgangspunkt für die eigentliche Bewertung der Fehlstellen. Diese erfolgt mit einem Optimierungsverfahren. Die Parameter der Defektmodelle werden in einer Simulation mithilfe eines iterativ regularisierten Gauss-Newton-Verfahrens modifiziert, bis das Simulationsergebnis möglichst genau den tatsächlichen Messdaten entspricht. Aufgrund ihrer Geschwindigkeit und Eignung für lange Schallwege kommt eine elastodynamische Simulationsmethode in Kirchhoff-Näherung zum Einsatz.
Zur Erprobung des Bewertungsverfahrens wurde ein kleiner Prüfkörper aus Stahl mit verschiedenen Referenzdefekten präpariert und mit mehreren Prüfköpfen inspiziert. Die mit der vorgestellten Methode erhaltenen Ergebnisse zeigen, dass die Eignung für unterschiedliche Prüffrequenzen und Defektarten gegeben ist. Darüber hinaus werden zwei Senkrechtprüfungen an großen zylindrischen Werkstücken und eine Winkelprüfung mit Transversalwellen ausgewertet, um die Praxistauglichkeit zur Bewertung von Defekten in großen Schmiedeteilen zu demonstrieren.
Aktualisiert: 2019-12-27
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Zählende, direktkonvertierende Röntgenzeilendetektoren auf Halbleiterbasis ermöglichen schnelle und hochauflösende Laminographie von Prüfobjekten bei der Fertigung elektronischer Baugruppen sowie in der Medizintechnik. Eine weitere Anwendung ergibt sich als spektroskopisches Dosimeter durch die Auswertung der tiefenabhängigen Absorption im sensitiven Material.
Röntgendetektoren unterliegen jedoch der ionisierenden Wirkung von Röntgenstrahlung. Sowohl Halbleiter, die für die Auswerteelektronik und für den Absorber genutzt werden, als auch die verwendeten Klebstoffe degradieren durch den Einfall von Röntgenstrahlung. Daher muss bei der Entwicklung des Röntgendetektors auf ein ganzheitliches strahlenresistentes Design geachtet werden. Ein geeignetes Aufbaukonzept zeichnet sich durch die Minimierung der Strahlenbelastung empfindlicher Detektorkomponenten aus. Die Strahlenresis-tenz der Auswerteelektronik auf CMOS-Basis (Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) kann durch die Verwendung von Ringtransistoren anstelle von gestreckten Transistoren erhöht werden. Bei der Wahl der zu verwendenden Epoxidklebstoffe ist auf eine hohe Strahlenresistenz zu achten.
Neben der Nutzung des Zeilendetektors zur Bildgebung kann dieser auch als spektroskopisches Dosimeter zur Ermittlung von momentanen Emissionsspektren von Röntgenröhren dienen. Somit können die Eigenschaften der emittierten Röntgenstrahlung durch die Kenntnis der spektralen Zusammensetzung bestimmt werden. Durch die Ermittlung von Dosis und lokaler Dosisverteilung kann die Bildqualität von Röntgendetektoren optimiert und gegebenenfalls der Bedarf von notwendigen Schirmungen in Röntgendetektoren genau festgelegt werden.
Aktualisiert: 2020-03-13
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In der holografischen zerstörungsfreien Prüftechnik werden Materialfehler über die Identifikation charakteristischer Unregelmäßigkeiten in den gemessenen Streifenmustern erkannt. Diese Teilmuster werden durch anormale Verformungen der Objektoberfläche hervorgerufen. Experi mente und numerische Simu lationen fiiluten zu der Hypothese, daß das Erscheinungsbild von Materialfehlern in Interferenzmustern auf eine endliche Menge typischer Streifenirregularitäten reduziert werden kann.
In der vorliegendeil Arbeit wird der Bewei s dieser Aussage erbracht. Dazu wird ein mathematisches Modell der holografisch-interferometrischen Bi l dentstehung verwendet. Die Interferenzstreifen werden als Konturlinien der Interferenzphase 8, die Infom1ationen über die Oberflächenverformung des Objektes trägt, betrachtet. Es ist gelungen, einen Zusammenhang zwischen den Konturlinien und pl anaren, autonomen Systemen gewöhnlicher Differenti a lgleichungen zu finden. Streifenlinien entsprechen Lösungen von An fangswertproblemen, deren Differentialgleichungen durch die Interferenzphase definiert sind und deren Anfangswertbedingung durch einen beliebigen Punkt der Linie und der Streifenordnung bestimmt wird. Die abgeleiteten Differential gleichungen bilden wegen ihrer speziellen Struktur Hamiltonsche Systeme. Zusammen mit dem Wi ssen über das mechani sche Verhalten technischer Objekte, die kleinen Beanspru chungen ausgesetzt sind, wie sie bei der zerstörungsfreien Prüftechnik üblich sind, erlaubt der gewählte An satz den oben erwähnten Beweis. Die Klassifizierung der stationären Punkte der Interferenzphase 8 (d. h. der Punkte mit g rad8 = 0) entspricht der Behandlung der kritischen Punkte des abgeleiteten Hamiltonschen
Systems. Die Ergänzung mit Eigenschaften regulärer Punkte, in denen grad8 * 0 eine Streifenrichtung
definiert, ergibt eine Liste aller Tei lmuster flir Objekte mit einer makroskopisch glatten Oberfläche. Untersuchungen relevanter Verletzu ngen der Oberflächenglattheit und ihrer Effekte auf holografische In terferogramme vervollständigt den Beweis über die endliche Menge von Streifenunregelmäßigkeiten.
Aktualisiert: 2020-11-19
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