Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

Titu-Marius I. Bajenescu

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente – von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

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Produktinformationen

- ISBN-10
  
  3658221771
- GTIN-13
  
  9783658221775
- Untertitel
  
  Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
- Erscheinungstermin
  
  2020-01-25
- Auflage
  
  1
- Sprache
  
  ger
- Autoren Biografie
  
  Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
- Genre-Code
  
  1684
- Letzte Bearbeitung
  
  2023-07-02
- Produktart
  
  BB
- Schlüsselwörter
  
  Ausfallanalyse, Buch, diskrete Bauelemente, Elektronik, Elektronische Bauelemente, Elektrotechnik, Halbleiter, hochintegrierte Schaltung, Kondensator, Memristor, MEMS, Mikroprozessor, Nachrichtentechnik, NEMS, optoelektronische Komponenten, Speichermodul, Test und Testbarkeit, Verpackungstechnologien, Wandler, ZUVERLAESSIGKEIT
- Verleger
  
  Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
- Genre
  
  HC, Technik, Technik: Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik

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Die Publikation Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme - Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung von Titu-Marius I. Bajenescu ist bei Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH erschienen. Die Publikation ist mit folgenden Schlagwörtern verschlagwortet: Ausfallanalyse, Buch, diskrete Bauelemente, Elektronik, Elektronische Bauelemente, Elektrotechnik, Halbleiter, hochintegrierte Schaltung, Kondensator, Memristor, MEMS, Mikroprozessor, Nachrichtentechnik, NEMS, optoelektronische Komponenten, Speichermodul, Test und Testbarkeit, Verpackungstechnologien, Wandler, ZUVERLAESSIGKEIT. Weitere Bücher, Themenseiten, Autoren und Verlage finden Sie hier: https://buch-findr.de/sitemap_index.xml . Auf Buch FindR finden Sie eine umfassendsten Bücher und Publikationlisten im Internet. Sie können die Bücher und Publikationen direkt bestellen. Ferner bieten wir ein umfassendes Verzeichnis aller Verlagsanschriften inkl. Email und Telefonnummer und Adressen. Die Publikation kostet in Deutschland 129.99 EUR und in Österreich 133.64 EUR Für Informationen zum Angebot von Buch FindR nehmen Sie gerne mit uns Kontakt auf!