Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Aktualisiert: 2023-07-02
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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Aktualisiert: 2023-07-02
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Aktualisiert: 2023-07-02
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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Aktualisiert: 2023-04-03
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Diese Arbeit entwickelt eine probabilistische Methode zur Planung elektrischer Verteilnetze. Mithilfe
der entwickelten Lastmodelle und Berechnungsverfahren erfolgt eine Bewertung der Optimierung
der Netzverstärkung durch Einsatz einer dynamischen Spitzenkappung. Anhand einer realen Fallstudie
werden die Unterschiede zwischen der konventionellen und der probabilistischen Verteilnetzplanung
analysiert.
Aktualisiert: 2021-03-31
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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Aktualisiert: 2023-04-04
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Diese Arbeit entwickelt eine probabilistische Methode zur Planung elektrischer Verteilnetze. Mithilfe der entwickelten Lastmodelle und Berechnungsverfahren erfolgt eine Bewertung der Optimierung der Netzverstärkung durch Einsatz einer dynamischen Spitzenkappung. Anhand einer realen Fallstudie werden die Unterschiede zwischen der konventionellen und der probabilistischen Verteilnetzplanung analysiert.
Aktualisiert: 2021-03-31
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