Entwicklung eines robusten Verfahrens zur Farbbestimmung von Zähnen auf Basis spektraler Daten.

Entwicklung eines robusten Verfahrens zur Farbbestimmung von Zähnen auf Basis spektraler Daten. von Pflüger,  Marius
In der heutigen Gesellschaft hat das Aussehen einen immer größeren Stellenwert. Entsprechend kritisch werden deshalb unpassende Farbausprägungen beim Zahnersatz gesehen. In der Praxis wird die Zahnfarbe hierfür meist visuell mithilfe von Farbringen bestimmt, was jedoch fehleranfällig ist.Diese Arbeit befasst sich deshalb mit der Entwicklung eines Verfahrens zur automatischen Bestimmung der Zahnfarbe sowie die Integration in den Sensor VITA Easyshade. Kernelement ist die Entwicklung eines mehrstufigen Prognosemodells für die Zahnfarbe auf Basis von künstlichen Neuronalen Netzen.Zur Evaluierung der ausgewählten Lösungsansätze konnte im Rahmen der Arbeit auf fast 4000 spektrale Messungen an Zähnen von Probanden zurückgegriffen werden. Die Validierung des Verfahrens zeigte, dass anhand definierter Kriterien die Prognosegüte im Vergleich zu herkömmlichen Verfahren um knapp 40% gesteigert werden konnte.
Aktualisiert: 2023-06-01
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Optimierung der optischen Eigenschaften diamantzerspanter Beugungsgitter mit mehreren Freiheitsgraden durch Minimierung der Maschinenkinematik.

Optimierung der optischen Eigenschaften diamantzerspanter Beugungsgitter mit mehreren Freiheitsgraden durch Minimierung der Maschinenkinematik. von Jagodzinski,  Marco, Oberschmidt,  Dirk
Die Dissertationsschrift befasst sich mit reflektiven aberrationskorrigierenden Beugungsgittern für spektroskopische Zwecke, welche mittels Ultrapräzisionsmaschinen hergestellt werden. Im Fokus der Arbeit steht die Ergründung der erreichbaren optischen Kennwerte in Zusammenhang mit der fertigendenden Maschinenkinematik.
Aktualisiert: 2023-06-01
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13. Spektrometertagung

13. Spektrometertagung von Gesellschaft Deutscher Chemiker / Deutscher Arbeitskreis für Spektroskopie, Koch,  Karl Heinz, Massmann,  Hans, Spektrometertagung 13,  1980,  Düsseldorf
Frontmatter -- VORWORT -- Literatur -- INHALTSVERZEICHNIS -- CONTENTS -- KAPITEL 1. EMISSIONSSPEKTROMETRIE MIT FUNKEN UND GLIMMENTLADUNGEN -- BEITRAG ZUM MEMORY-EFFEKT IN DER EMISSIONSSPEKTROMETRIE / Haftka, F. J. -- Emissionsspektralanalyse von Feinsilber mit einer Glimmentladungslampe / Lüschow, H.-M. -- EINIGE GRUNDSÄTZLICHE BETRACHTUNGEN UND ORIENTIERENDE VERSUCHE ZUR OBERFLÄCHENANALYSE MIT HILFE DER GLIMMENTLADUNGSLAMPE NACH GRIMM / Quentmeier, A. / Laqua, K. -- BERICHT ÜBER EINIGE ERFAHRUNGEN MIT VERSCHIEDENEN TYPEN VON GLIMMLAMPEN / Ko, J.B. / Laqua, K. -- KAPITEL 2. ELEKTRONISCHE DATENVERARBEITUNG UND AUTOMATION -- ERFAHRUNG MIT ZWEI NEUARTIGEN GERAETEN ZUM HALBAUTOMATISCHEN AUFLOESEN BZW. AUFSCHLIESSEN VON ANALYSENPROBEN ZUR INSTRUMENTALANALYSE / Wagner, A. / Petin, J. / Hein, J. / Bentz, Fr. -- ENTWICKLUNG EINES PROGRAMMES ZUR AUTOMATISCHEN DATENERFASSUNG UND - AUSWERTUNG FÜR DIE EMISSIONSSPEKTROMETRIE / Schaefer, M.E. -- VOLLAUTOMATISCHER SIMULTANBETRIEB MEHRERER ATOMABSORPTIONSSPEKTROMETER IM ANALYSENAUFTRAGSDIENST EINES FORSCHUNGSZENTRUMS DURCH EINSATZ EINES PROZESSRECHNERS / Brunner, W. / Heckner, H. / Sansoni, B. -- RECHNERUNTERSTÜTZTE, REGISTRIERENDE RAUCHGASUNTERSUCHUNGEN AN MÜLLVERBRENNUNGSANLAGEN MIT HILFE EINES IR-ANALYSATORS / Dannecker, W. / Düwel, U. -- ERWEITERUNG DER STEUERUNG UND DATENERFASSUNG EINES KOMMERZIELLEN SPEKTRALPHOTOMETERS FÜR KINETISCHE UNTERSUCHUNGEN DURCH EINEN MIKROPROZESSOR / Gauglitz, G. / Klink, T. / Lorch, A. -- KAPITEL 3. EMISSIONSSPEKTROMETRIE MIT PLASMEN -- ATOMSPEKTROMETRISCHE MULTIELEMENTANALYSE MIT EINEM RECHNERGESTEUERTEN ICP SEQUENZ-EMISSIONSSPEKTROMETER / Nippus, M. -- EINSATZ DER OPTISCHEN EMISSIDNSSPEKTRALANflLYSE UNTER VERWENDUNG EINES INDUKTIV GEKOPPELTEN PLASMAS FUER ROUTINEANALYSEN IIM DER STAHLINDUSTRIE / Wagner, A. / Petin, J. / Majerus, J. -- DIE OPTIMIERUNG EINES INDUKTIV GEKOPPELTEN HOCHFREQUENZPLASMAS FÜR DIE ANALYSE VON ORGANISCHEN LÖSUNGEN / Broekaert, J.A.C. / Leis, F. / Laqua, K. -- BESTIMMUNO VON PHOSPHOR, BOR UND ARSEN IM STAHL DURCH LÖSUNOSSPEKTRALANALYSE MITTELS GIB ICHSTROMPLASMA UND ECHELLESPEKTROMETER / Bosch, H. / K., Lohau / Thyssen / Laqua, K. -- DIE PRAKTISCHEBEHANDLUNG VON STÖREINFLÜSSEN BEI ICP-ATOMEMI SSION / Bombelka, Dr.R.M. -- BESTIMMUNG VON SILIZIUM IN BENZIN MITTELS ATOMEMISSIONSSPEKTROSKOPIE / Gottlieb, K. / Malinek, M. -- DER EINSATZ EINES INDUKTIV-GEKOPPELTEN PLASMAS (ICP) IN EINEM KOMBINIERTEN ATOM-ABSORPTIONS- UND ATOM-EMISSIONS-SPEKTROPHOTOMETER ZUR BESTIMMUNG VON PHOSPHOR UND SCHWEFEL IN STAHL / Schräder, W. -- ICP - EMISSIONSSPEKTROMETRIE - EIN FERTIGES ANALYSENPRINZIP ? / Ohls, K. -- DC-PLASMA-EMISSIONSSPEKTROMETER MIT ECHELLE-MONOCHROMATOR EINE ALTERNATIVE ZU AAS UND ICP? / Bühring, M. / Buban, H.-P. -- KAPITEL 4. RÖNTGENSPEKTROMETRIE -- RF-ANALYSE MIT INTERNER REFERENZ UND KORREKTUR DER RESTLICHEN MATRIXEFFEKTE / Kikkert, J.N. / Jongh, W.K. de -- DIE WIRKSAMKEIT VON KORREKTURANSÄTZEN DER RÖNTGENANALYSE / Plesch, R. -- PROBENVORBEREITUNG UND RÖNTGENFLUORESZENZANALYSE VON FERROLEGIERUNGEN / Schwarz, W. / Kandlbauer, W. / Schwarz, K. -- KAPITEL 5: ATOMABSORPTION UND PLASMAEMISSION -- UNTERSUCHUNGEN ZUM ANREICHERUNGSVERHALTEN VON METALLEN IN MASSENSTRÖMEN EINES KOHLE- UND EINES MOLLKRAFTWERKS UNTER VERWENDUNG DER OPTISCHEN EMISSIONS- UND DER ATOMABSORPTIONSSPEKTROSKOPIE / Dannecker, W. / Biehusen, I. / Ahlers, K. -- BESTIMMUNG VON Cd, Pb UND T1 IN MINERALISCHEN AUSGANGSSTOFFEN MIT VERSCHIEDENEN SPEKTROMETRISCHEN METHODEN NACH CHEMISCHER VORANREICHERUNG / Alt, F. / Berndt, H. / Schmidt, J. Messer -- BESTIMMUNG VON ANTIMON, ARSEN, SELEN, TELLUR, WISMUT UND ZINN MIT DER HYDRID-AAS-TECHNIK / Welz, B. / Grobenski, Z. / Melcher, M. -- AAS - EINE PHYSIKALISCHE METHODE ZUR UNTERSTÜTZUNG DER ZUORDNUNG KERAMISCHER FUNDE / Wernisch, J. / Gröger, W. -- ZEEMAN-ATOMABSORPTIONSSPEKTROMETRIE / Massmann, H. / Gohary, Z. El -- KAPITEL 6: IDENTITÄTS- UND VERWECHSELUNGSPRÜFUNG -- MÖGLICHKEITEN UND GRENZEN SPEKTROMETRISCHER VERWECHSELUNGSPRÜFUNG / Laffolie, H. de -- EMISSIONSSPEKTROMETRISCHE IDENTITÄTSPRÜFUNG UNLEGIERTER WALZSTAHLERZEUGNISSE / Koch, K.H. / Loose, W. / Aukskel, H. -- IDENTIFIZIERUNG UND ANALYSE VON LEGIERUNGEN MIT DEM KOMBINIERTEN RONTGENFLUORESZENZSPEKTROMETER TXRF / Price, B. -- DOKUMENTATION BEI DER VERWECHSLUNGSPRÜFUNG / Friedhoff, P. / Scheufler, R. -- SACHVERZEICHNIS -- ANSCHRIFTEN DER AUTOREN -- Backmatter
Aktualisiert: 2023-05-29
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Methodische Untersuchungen zur Analyse mit dem Massenspektrometer

Methodische Untersuchungen zur Analyse mit dem Massenspektrometer von Aulinger,  Fritz
Die massenspektrometrischen Daten von 27 der insgesamt möglichen 66 Oktene werden angegeben. Die Spektren sind so verschieden, daß man damit zwischen den isomeren Oktenen unterscheiden kann. Es wird ein Ordnungs system beschrieben, das es erlaubt, die vorliegenden Daten auszuwerten mit dem Ziel, eventuelle Zusammenhänge zwischen Molekülstruktur und Massenspektrum zu finden. Das System ist durch eindeutige Vorschriften festgelegt, so daß es auch für eine maschinelle Auswertung geeignet ist. Die Ergebnisse werden in Form von Merksätzen formuliert. Die Merksätze gelten für die vorliegenden Oktene und ihre Massenspektren exakt. Sie erlauben wegen ihrer großen Zahl außerdem gewisse statistische Rückschlüsse auf die bisher noch nicht untersuchten Oktene. Es lassen sich einerseits einige Vorhersagen über die Massenspektren dieser Oktene machen. Andererseits kann man aus dem Massenspektrum eines Oktens mit unbekannter Struktur mit Hilfe der Merksätze Hinweise auf die Struktur erhalten. Dazu werden die möglichen Strukturen so geordnet, wie es der Wahrscheinlichkeit ihres V orliegens entspricht. Es wird nicht versucht, den Inhalt der Merksätze zu deuten, da der Anteil der untersuchten Oktene an den insgesamt möglichen Strukturen noch zu klein ist. Das Ordnungssystem läßt sich auf Gruppen anderer isomerer Verbindungen ebenfalls anwenden. Hierzu sind allerdings einige Modifizierungen notwendig, weil andere Massenzahlen auftreten.
Aktualisiert: 2023-05-26
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Methodische Untersuchungen zur Analyse mit dem Massenspektrometer

Methodische Untersuchungen zur Analyse mit dem Massenspektrometer von Aulinger,  Fritz
Die massenspektrometrischen Daten von 27 der insgesamt möglichen 66 Oktene werden angegeben. Die Spektren sind so verschieden, daß man damit zwischen den isomeren Oktenen unterscheiden kann. Es wird ein Ordnungs system beschrieben, das es erlaubt, die vorliegenden Daten auszuwerten mit dem Ziel, eventuelle Zusammenhänge zwischen Molekülstruktur und Massenspektrum zu finden. Das System ist durch eindeutige Vorschriften festgelegt, so daß es auch für eine maschinelle Auswertung geeignet ist. Die Ergebnisse werden in Form von Merksätzen formuliert. Die Merksätze gelten für die vorliegenden Oktene und ihre Massenspektren exakt. Sie erlauben wegen ihrer großen Zahl außerdem gewisse statistische Rückschlüsse auf die bisher noch nicht untersuchten Oktene. Es lassen sich einerseits einige Vorhersagen über die Massenspektren dieser Oktene machen. Andererseits kann man aus dem Massenspektrum eines Oktens mit unbekannter Struktur mit Hilfe der Merksätze Hinweise auf die Struktur erhalten. Dazu werden die möglichen Strukturen so geordnet, wie es der Wahrscheinlichkeit ihres V orliegens entspricht. Es wird nicht versucht, den Inhalt der Merksätze zu deuten, da der Anteil der untersuchten Oktene an den insgesamt möglichen Strukturen noch zu klein ist. Das Ordnungssystem läßt sich auf Gruppen anderer isomerer Verbindungen ebenfalls anwenden. Hierzu sind allerdings einige Modifizierungen notwendig, weil andere Massenzahlen auftreten.
Aktualisiert: 2023-05-25
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Optimierung der optischen Eigenschaften diamantzerspanter Beugungsgitter mit mehreren Freiheitsgraden durch Minimierung der Maschinenkinematik.

Optimierung der optischen Eigenschaften diamantzerspanter Beugungsgitter mit mehreren Freiheitsgraden durch Minimierung der Maschinenkinematik. von Jagodzinski,  Marco, Oberschmidt,  Dirk
Die Dissertationsschrift befasst sich mit reflektiven aberrationskorrigierenden Beugungsgittern für spektroskopische Zwecke, welche mittels Ultrapräzisionsmaschinen hergestellt werden. Im Fokus der Arbeit steht die Ergründung der erreichbaren optischen Kennwerte in Zusammenhang mit der fertigendenden Maschinenkinematik.
Aktualisiert: 2023-03-31
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Atomspektren selber messen

Atomspektren selber messen von Böttcher,  Rasmus, Bourdon,  Björn, Imlau,  Mirco, Osterheider,  Mattis
Spektrometer zählen zu den wichtigsten optischen Messinstrumenten der High-Tech-Industrie und -Forschung und werden insbesondere zur Analyse von Festkörpern, Gasen und Flüsssigkeiten sowie moderner Lichtquellen eingesetzt. Dieses Buch zeigt dir Schritt für Schritt, wie du dein eigenes Spektrometer aus LEGO®-Bausteinen, Spiegeln und einer CCD-Zeilenkamera selber zu Hause aufbauen kannst. Info-Boxen und zahlreiche Tipps und Tricks erklären dir: ► wie ein Spektrometer funktioniert und welche physikalischen Phänomene zugrunde liegen ► wie du spannende Experimente mit dem Spektrometer durchführen kannst ► wie du die Atomspektren einer Energiesparlampe selber messen kannst ► wie du den Schutz deiner Sonnenbrille bestimmen kannst
Aktualisiert: 2021-07-23
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Zerstörende Werkstoffprüfung

Zerstörende Werkstoffprüfung von Schiebold,  Karlheinz
Gravimetrie? Stöchiometrie? ICP-Spektrometer? Dieses stark praxisorientierte Fachbuch gibt die richtigen Antworten dazu. In der Berufspraxis und der beruflichen Weiterbildung erprobte Inhalte geben dem Leser einen umfassenden, verständlich geschriebenen und mit aussagekräftigen Abbildungen unterlegten Überblick zum Thema chemisch analytische und spektrometrische Prüfverfahren.
Aktualisiert: 2023-04-01
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