Europäisches Patentübereinkommen
Thomas Adam, Anna Bacchin, Ingo Beckedorf, Lars Birken, Jochen Ehlers, Rainer Fritsche, Klaus Grabinski, Volkmar Henke, Tobias H. Irmscher, Ulrich Joos, Christof Keussen, Britta Kley, Gert Kolle, Christian Osterrieth, Tilman Quarch, Uwe Scharen, Heiko Sendrowski, Manuel Söldenwagner, Doris Thums, Jochen Unland, Manfred Wieser
Zum Werk
Der Kommentar knüpft an die Tradition des „Benkard“ zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.
Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
Zur Neuauflage
Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).
Zielgruppe
Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
