Autor: Ralph Nack

Zum Werk Das Werk behandelt das gesamte praxisrelevante Patentrecht, so wie es in Deutschland zur Anwendung kommt. Es beinhaltet eine fundierte Auseinandersetzung mit den internationalen, europäischen und deutschen materiell-rechtlichen und prozessualen Grundlagen ebenso wie eine klare und umfassende Darstellung der aktuellen Brennpunkte in Rechtsprechung und Literatur. Neben den Grundlagen des Patentrechts bietet das Werk einen detaillierten und durch umfassende Rechtsprechungs- und Literaturnachweise belegten Einblick in das Anmelde- und Einspruchsverfahren, das Verletzungs- und Nichtigkeitsverfahren sowie Maßnahmen zur Beweissicherung und Beschlagnahme von Gütern. Die Besonderheiten des Gebrauchsmusterrechts, des ergänzenden Schutzzertifikats und der biologischen Erfindungen werden ebenfalls umfassend dargestellt. Die Inhalte haben nicht nur hohen wissenschaftlichen Anspruch und stellen den Meinungsstand zum Patentrecht präzise dar, sondern sind zudem für den Praktiker unmittelbar verwertbar. Wer sich einen fundierten Überblick über das Patentrecht verschaffen will, wird von dem Werk ebenso profitieren wie derjenige, der eine Antwort auf spezifische patentrechtliche Fragen sucht. Das Werk eignet sich gleichfalls als Ausgangspunkt für die weitere wissenschaftliche Auseinandersetzung mit dem deutschen, europäischen und internationalen Patentrecht. Das Autorenteam setzt sich aus hocherfahrenen Rechtsanwälten, Patentanwälten, Richtern und Professoren zusammen. Inhalt - Einführung - die Erfindung und ihre Schutzfähigkeit (Erfindungsbegriff, Technizität, Neuheit, erfinderische Tätigkeit, Ausführbarkeit) - Inhaberschaft, insb. Mehrheit von Inhabern - das Patent als Gegenstand des Rechtsverkehrs - Erteilung und Wegfall von Patenten (europäisches und deutsches Erteilungsverfahren, Einspruchsverfahren, Einspruchsbeschwerde, Nichtigkeitsverfahren) - Auslegung und Schutzbereich von Patenten - Besonderheiten chemischer und biotechnologischer Erfindungen - Patentbenutzung (unmittelbare Benutzung, mittelbare Benutzung, Verantwortlichkeit) - Einwendungen - die Rechtsfolgen der Patentverletzung - die Patentstreitsache - sonstige Verfahren und Ansprüche in Patentsachen (Zollbeschlagnahme, Patentstrafrecht, UWG) - Gebrauchsmusterrecht - das ergänzende Schutzzertifikat Vorteile auf einen Blick - umfassend - grundlegend - leicht verständlich - praxisnah Zu den Autoren Herausgegeben von Prof. Dr. Maximilian Haedicke, LL.M., RiOLG Düsseldorf, Universität Freiburg, und Dr. Henrik Timmann, Rechtsanwalt in Düsseldorf Bearbeitet von Dr. Johannes Bukow, LL.M., Rechtsanwalt in Mannheim; Dr. Dirk Bühler, Patentanwalt in München; Dr. Martin Chakraborty, Rechtsanwalt in Düsseldorf; Prof. Dr. Maximilian Haedicke, LL.M., RiOLG Düsseldorf, Universität Freiburg; Dr. Felix Harbsmeier, Patentanwalt in Hamburg; Dr. Lorenz Hartmann, Patentanwalt in München; Dr. Dietrich Kamlah, Rechtsanwalt in München; Dr. Felix Landry, Patentanwalt in Hamburg; Dr. Ralph Nack, Rechtsanwalt in München; Dr. Joel Nägerl, Patentanwalt in München; Dr. Rüdiger Pansch, Rechtsanwalt in Düsseldorf; Marco Stief, LL.M., Rechtsanwalt in München; Dr. Henrik Timmann, Rechtsanwalt in Düsseldorf; Axel Verhauwen, Rechtsanwalt in Düsseldorf; Dr. Matthias Zigann, RiLG München I. Zielgruppe Für Rechtsanwälte, Patentanwälte und Patentanwaltskandidaten, patentamtliche Prüfer, Richter, Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen, Wissenschaftler.